用于光電生產企業的BAR條（LD芯片）光電性能檢測，可測試長波長激光器BAR條的常溫、高溫條件下的前光、背光的LIV參數和光譜參數，設備自動化程度高，圖像算法智能，支持多種封裝的BAR條多種參數測試，有利于生產企業提高測試效率，提高產品的品質把控。

普賽斯PAT-56-I性能自動測試系統，采用一盤64顆TO-LD器件測試，支持多種類型的TO-56封裝，能實現激光器TO器件的自動快速測試（LIV綜合測試、光譜測試）。該系統和我司老化箱一體設備、分揀設備配套使用，提高工廠生產、測試效率，具有高集成度、高速、高穩定性的特點。

高速信號誤碼性能測試系列，用于25G、40G、100G系列光器件與光模塊的靈敏度和飽和光功率測試，4通道獨立或同時工作、有定時和連續兩種檢測模式、上位機支持定時模式或搜索模式；可自定義各種不同的速率和測量所需的碼型，可以對QSFP、CFP進行誤碼測試。

普賽斯電子提供COC老化監控與測試解決方案，老化采用“抽屜式”方式，夾具采用Pogo Pin方式加電，上料方式容易操作，夾具容易維護，老化與測試系統只需要搬運夾具，不需要再次上下料，老化方式靈活可選，測試精度高，一致性好，適用于生產企業大批量老化、生產、測試COC、COF、BOX等封裝的產品。

普賽斯電子提供BOB生產測試的調試、測試解決方案，該方案集成度高，測試效率高，測試指標全，滿足不同芯片方案的BOB生產測試要求。方案靈活，支持1拖8測試工位以及1拖16測試工位，可根據不同產品的要求靈活選擇，最大化提高生產測試效率。

普賽斯電子提供100G模塊生產測試解決方案，采用插卡組合的方式，最小化的占用生產操作空間，一個機箱解決100G模塊/器件的生產測試需求，靈活的插卡方案適用于多種模塊測試的方案，包括自環測試和并行測試、串行測試等。