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用于光電生產企業的BAR條(LD芯片)光電性能檢測,可測試長波長激光器BAR條的常溫、高溫條件下的前光、背光的LIV參數和光譜參數,設備自動化程度高,圖像算法智能,支持多種封裝的BAR條多種參數測試,有利于生產企業提高測試效率,提高產品的品質把控。
產品資訊
普賽斯PAT-56-I性能自動測試系統,采用一盤64顆TO-LD器件測試,支持多種類型的TO-56封裝,能實現激光器TO器件的自動快速測試(LIV綜合測試、光譜測試)。該系統和我司老化箱一體設備、分揀設備配套使用,提高工廠生產、測試效率,具有高集成度、高速、高穩定性的特點。
產品資訊
高速信號誤碼性能測試系列,用于25G、40G、100G系列光器件與光模塊的靈敏度和飽和光功率測試,4通道獨立或同時工作、有定時和連續兩種檢測模式、上位機支持定時模式或搜索模式;可自定義各種不同的速率和測量所需的碼型,可以對QSFP、CFP進行誤碼測試。
方案中心
普賽斯電子提供COC老化監控與測試解決方案,老化采用“抽屜式”方式,夾具采用Pogo Pin方式加電,上料方式容易操作,夾具容易維護,老化與測試系統只需要搬運夾具,不需要再次上下料,老化方式靈活可選,測試精度高,一致性好,適用于生產企業大批量老化、生產、測試COC、COF、BOX等封裝的產品。
方案資訊
普賽斯電子提供BOB生產測試的調試、測試解決方案,該方案集成度高,測試效率高,測試指標全,滿足不同芯片方案的BOB生產測試要求。方案靈活,支持1拖8測試工位以及1拖16測試工位,可根據不同產品的要求靈活選擇,最大化提高生產測試效率。
方案資訊
普賽斯電子提供100G模塊生產測試解決方案,采用插卡組合的方式,最小化的占用生產操作空間,一個機箱解決100G模塊/器件的生產測試需求,靈活的插卡方案適用于多種模塊測試的方案,包括自環測試和并行測試、串行測試等。
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