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老化監控測試系統

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LD失效分析系統

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       LD失效分析儀適用于LD-TO、TOSA器件的長時間、大電流、高低溫環境下的加速老化,實現對LD器件的可靠性與失效分析、預測器件使用壽命,規避隱形的重大質量事故,器件工作電流程序可控,不同電流、不同溫度環境下的LD背光電流在不同時間點的實時檢測,實時上報上位機或服務器,對器件可靠性、失效性進行分析。

產品特點

1、模擬模塊工作模式老化:該設備可以設置成APC模式老化,模擬模塊實際應用情況長期對器件進行恒功率老化,用于器件失效分析;

2、多種顯示方式:支持脫離電腦主機的指示燈顯示,數碼管調節;也支持上位機軟件顯示;

3、器件防護:超嚴格的上下電時序設計,確保上下電過程不會對器件有軟傷害;

技術指標


名稱

說明

單臺工位

40LD激光器

系統連接

RS485,最大支持20臺設備

組網方式

RS485

供電方式

APC&ACC,獨立供電工作

PD電壓

0~5V±1%+10mV

LD電壓保護

當最大電流150mA時,LD兩端電壓不超過2V

LD監控電流

0~150mA±1%+0.3mA,穩定性1%

PD監控電流

0~3000uA±1%+20uA,穩定性1%

數據采集

采集間隔1240分鐘。

注意:系統輪詢時間依賴于設備總數

數據記錄

滿足持續老化5000小時的數據存儲要求

異常日志

發生異常時記錄時間

保護

加電、下電緩慢啟動,不低于200ms時間


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