資料下載申請

關閉

收發組件耦合測試

資訊客服:027-89908766

PIN/APD器件耦合光源與檢測系統

/cn/info_27.aspx?itemid=75

       用于PIN、APD探測器的OSA器件耦合,提供耦合用的光源,以及耦合器件的性能參數監測:雪崩電壓、TIA工作電流、響應度、暗電流、回損等。

產品特點

1、提供穩定的不同波長光源;

2、快速檢測不同性能指標、可快速顯示波形曲線;

3、可監測器件的回損、暗電流。

技術指標

APD器件耦合時檢測的性能指標

測量參數

擊穿電壓、工作電流、響應電流、TIA電流

輸出電壓源

0-70V,精度0.1V

Vbr

精度<0.5V,測量時間<0.4秒(精度與器件本身的穩定性有關)

Iapd

響應電流:

范圍:0-1uA,精度0.05uA,測量時間<0.5

范圍:1-10uA,精度0.5uA,測量時間<0.5

范圍:10-110uA,精度1uA,測量時間<0.5秒(最大電流取決于輸出電壓,在不超過40V下可測量最大電流110uA


PIN-TIAVpd)器件耦合時檢測的性能指標

Icc

TIA電流,范圍:0-80mA,精度1mA,測量時間<0.2

Ipin

響應電流:

范圍:0-1uA,精度0.05uA,測量時間<0.5

范圍:1-10uA,精度0.5uA,測量時間<0.5

范圍:10-110uA,精度1uA,測量時間<0.5


PIN-TIAMon)器件耦合時檢測的性能指標

Icc

TIA電流,范圍:0-80mA,精度1mA,測量時間<0.2

Imon

響應電流,范圍:0-125uA,精度1uA,測量時間<0.5

響應電流,范圍:0-12.5uA,精度0.2uA,測量時間<0.5







資料下載

Copyright ? 2017 武漢普賽斯電子技術有限公司. All Rights Reserved. Designed by Wanhu 鄂ICP備17029825號;公安機關備案號42011502000463

体彩七星彩走势图