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64路EML器件的TE測試系統

/cn/info_27.aspx?itemid=73

       適用于不同環境工作溫度下,同時連續測試64路EML器件(EML_TO、EML_TOSA)的LD綜合參數。該系統自動分別測試64路EML LD器件的各種參數,實現TE和TC測試,用于器件的可靠性分析。

產品特點

1、同時測試64路的EML器件的LD綜合參數,顯示EA的P-V曲線,驗證EAM的吸光/透光能力;

2、PID算法快速穩定TEC溫度,軟件顯示TEC曲線,直觀顯示溫度穩定時間;

3、軟件顯示光譜測試結果,支持多種光譜儀型號;

4、系統自帶數據庫,可保存所有測量參數和特征曲線圖片,支持數據的導出。

技術指標


測試通道數

64

激光器封裝類型

LD-/PD- 共陰型(EML

采集參數

驅動電流、正向電壓、光功率、背光電流

主要計算參數

IthPoVfImRsSEVinf

驅動電流

范圍0-120mA,精度0.1%±0.1mA

MPD暗電流

范圍0-100nA,精度1%±1.5nA

背光電流

范圍0-2500uA,精度0.1%±5uA

PD檢測光功率

范圍0-10mW,精度1%±50uW

正向電壓

范圍0-3.0V,精度0.5%±50mV

LD保護電壓

范圍0-3.0V,精度0.5%±50mV

電流掃描方式

支持連續電流掃描和脈沖電流掃描,脈沖電流寬度100us

校正功能

用戶可自行校準功率、電壓、背光

測試時間

掃描步進0.10.2可以配置,1ms/

內置PD響應波長

800-1700 nm(支持850nm VCSEL器件測試)

TEC驅動電流

-2A~+2A,精度1%±10mA

TEC工作電壓

最大3V

溫度控制

5~80,實際值取決于TEC材料,精度0.5%±0.5

溫控速度

25~45升降溫穩定時間5s,整個范圍內最慢20s

EA電壓

-3V~+2V,精度1%±50mV

EA保護電流

-100mA ~ +30mA,精度5%±5mA

數據庫

支持本機數據庫及SQL數據庫服務器/可提供DLL

內置PD直徑

1.0 mm(可選擇2.0mm3.0mm

光纖適配器

通用適配器(可配FC或萬能接頭)

通信口

RS232

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