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64路LD-TE測試系統

/cn/info_27.aspx?itemid=72

       用于在不同溫度環境下,連續測試64路OSA器件(TOSA、BOSA)的LD端綜合參數測試以及不同溫度下的綜合參數對比。該系統配套測試夾具可在多種環境下自動分別測試64路LD器件的LIV等參數,實現多路的TE(Tracking Error)和TC(Temperature Cycle)測試,可用于器件的可靠性和性能分析。

產品特點

1、環境測試效率高:同時連續測試環境條件下的64只器件,單顆LIV測試效率<1s;

2、數據分析功能:可保存LD測試的數據和回放各種參數及特征曲線圖片,自動對比不同溫度下的參數指標。

技術指標


測試通道數

64

激光器封裝類型

共陽型和獨立型

主要采集參數

驅動電流、電壓、光功率、背光電流

主要計算參數

IthPoVfImRsPslope等以及各種定點查找

驅動電流

范圍:0-120mA,精度0.1%±0.1mA

背光電流

范圍:0-2500uA,精度0.1%±5uA

內置PIN檢測光功率

范圍:0-10mW,精度1%±50uW

正向電壓

范圍:0-3.0V,精度0.2%±50mV

電流掃描方式

支持連續掃描和脈沖掃描,脈沖電流寬度100us

校正功能

用戶可自行校準功率、電壓、背光

測試時間

掃描步進0.2mA1ms/

探測器檢測波長

800~1700nm(支持850nm VCSEL器件測試)

數據庫

支持本機數據庫及SQL數據庫服務器

光口檢測器直徑

1.0 mm(可選擇2.0mm3.0mm

光口四向性差異

0.1dBm

光纖適配器

通用適配器(可配FC或萬能接頭)

光纖

單模、多模

通信口

RS232

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