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激光器光斑分析與焦距測試系統

/cn/center/info_25.aspx?itemid=68


       TOSA器件的生產耦合過程中經常遇到TO器件的LIV測試數據良好,光譜的測試數據良好,但是生產耦合中無法耦合到理想的光功率值。很大原因在于TO器件的光斑出現了橫模異常問題,普賽斯電子提供激光器的光譜分析與焦距測試系統,幫忙生產企業檢測刪選橫模異常的TO器件,便于分析生產工藝問題,提高生產耦合效率。


產品特點

1、實時顯示光斑變化的圖形,掃描步進精度高

2、高精度圖形處理算法,可測試TO的焦距值

3、有支持EML器件的光斑分析系統


技術指標

參數

指標

測試效率

單顆LIV測試:<1s

單顆LIV+光譜測試<4-6s(根據光譜儀型號相關)

驅動電流

范圍0-100mA,精度0.1%±0.1mA

輸入光功率

范圍0-10mW,精度1%±50uW

背光電流

范圍0-2500uA,精度0.1%±5uA

正向電壓

范圍0-3.0V,精度0.5%±50mV

電流掃描方式

支持連續電流掃描和脈沖電流掃描,脈沖電流寬度100us

測試時間

掃描步進0.1~1.0可以配置,1ms/

探測器適用波長

800-1700 nm

數據庫

本地Access保存或者SQL服務器保存

輸出特性曲線

(1)I-L特性 (2)I-V特性 (3) 光譜參數

輸出電信號參數

Ith PImVfRsSEKink

輸出光信號參數

DFB:(1)λp 峰值波長 (2)PEAK(3)SMSR(4)-20dBwide

FP: (1)MeanWavelength  (2)RMS

校正功能

提供校準功能,用戶可自行校準


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