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BAR條自動測試系統

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    用于光電生產企業的BAR條(LD芯片)光電性能檢測,可測試長波長激光器BAR條的常溫、高溫條件下的前光、背光的LIV參數和光譜參數,設備自動化程度高,圖像算法智能,支持多種封裝的BAR條多種參數測試,有利于生產企業提高測試效率,提高產品的品質把控。

產品特點

1、自動上下料:自動上下料,支持從料盒自動取料下料

2、智能識別:自動識別每個BAR條的第一顆CHIP位置,支持CHIP的ID自動編碼

3、快速測試:支持前光和背光的同時測試,1s內完成單顆LIV的測試,4-6s內完成LIV+光譜的測試;

4、集成雙工作臺:單臺設備集成常溫和高溫臺測試

5、支持脈沖掃描方式:最大可能減少CHIP發熱帶來的影響

技術指標

參數

指標

測試效率

單顆LIV測試:<1s

單顆LIV+光譜測試<4-6s(根據光譜儀型號相關)

驅動電流

范圍0-100mA,精度0.1%±0.1mA

輸入光功率

范圍0-10mW,精度1%±50uW

背光電流

范圍0-2500uA,精度0.1%±5uA

正向電壓

范圍0-3.0V,精度0.5%±50mV

電流掃描方式

支持連續電流掃描和脈沖電流掃描,脈沖電流寬度100us

測試時間

掃描步進0.1~1.0可以配置,1ms/

探測器適用波長

800-1700 nm

數據庫

本地Access保存或者SQL服務器保存

輸出特性曲線

(1)I-L特性 (2)I-V特性 (3) 光譜參數

輸出電信號參數

Ith PImVfRsSEKink

輸出光信號參數

DFB:(1)λp 峰值波長 (2)PEAK(3)SMSR(4)-20dBwide

FP: (1)MeanWavelength  (2)RMS

校正功能

提供校準功能,用戶可自行校準


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